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武汉普赛斯仪表

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武汉普赛斯仪表
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东湖新技术开发区光谷三路777号—6号保税物流园2号楼4楼
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陶女士
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数字源表四探针测电阻率
简述电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量,某种材料制成的长为1米,横截面积为1平方米的导体的电阻,在数值上等于这种材料的电阻率。它反映物质对电流阻碍作用的属性,它与物质的种类有关,还受温度、湿度等因素的影响。在实际中我们可能需要测试一些薄而平的材料的电阻率或是涂层的电阻率,这时我们需要使用四探针...
数字源表测试半导体材料霍尔效应
半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段,可根据霍尔系数的符号判断材料的导电类型。霍尔效应本质上是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起的偏转,当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,形成附加的横向电场。...
功率器件功能高压测试模块
功率器件功能高压测试模块特点和优势:...
脉冲大电流源1000A脉冲电源
HCPL100脉冲大电流源1000A脉冲电源特点和优势:...
IC芯片电性能IV曲线扫描数字源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定仪器,通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测,区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一,常用的测试方法是FIMV(加电流测电压)及FVMI(加电压测电...
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发布时间:2024-04-26

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