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芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一，常用的测试方法是FIMV（加电流测电压）及FVMI（加电压测电...
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MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件，可 以 广 泛 应 用 在 模 拟 电 路 和 数 字 电 路 当 中 。 MOSFET可以由硅制作，也可以由石墨烯，碳纳米管等材料制作，是材料及器件研究的热点。主要参数有 输 入 / 输 出...
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二极管IV扫描源表以电压为横坐标，电流为纵坐标作出元件的电压—电流关系曲线，叫做该元件的伏安特性曲线即V-I曲线。...
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纳米材料高温原位表征及测试数字源表方案通过MEMS芯片在原位样品台内对样品构建精细热场自动调通过MEMS芯片在原位样品台内对样品构建精细热场自动调控及反馈测量系统，并结合TEM/SEM研究材料在不同热场条件下发生结构相变、形貌变化、物性变化以及电性变化等关键信息。...
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概述纳米材料，定义为粒径在1-100纳米之间一类超细材料，具有表面效应、小尺寸效应、宏观量子隧道效应等一些特殊物理化学性能。由于结构有比表面积大，粒径小，表面原子比例高等特点，使得纳米材料在电学、热力学以及催化等多个方面有D...
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